2018年10月24日，“2018年全国电子显微学学术年会”在成都禧悦酒店隆重开幕。大会吸引来自各大院校、科研院所、企业等电子显微学领域的专家学者近千人，分析测试中心的李少杰、陈茜老师参加了此次会议。

本次大会由大会报告和九个分会场报告组成，大会报告由特邀的十四位国内外著名专家学者、相关仪器厂商专家依次为大家呈现精彩的报告。中国科学院院士、大会主席张泽院士从中国电镜发展史讲起，讲述老一辈专家克服困难、深入专研的科研精神，并以此鼓励在场所有的年轻学者，在当前中国科研发展的有利条件下，传承老一辈的精神，扎实电镜基础技术，勇于创新。

此次大会颁发了“中国电子显微学终身成就奖”等八个奖项。中国科学院院士、清华大学教授朱静院士获得中国电子显微终身成就奖。朱院士从事电镜工作56周年，专注材料的显微结构、缺陷、界面等形成和演变及其与性能关系的研究，应用现代显微分析技术在研制新材料和材料科学的基础研究中做出创新性工作。

通过此次大会的学习，李少杰、陈茜两位老师扎实了自己的专业基础，丰富了在实验过程中的制样和测试手段，了解了电子显微领域的前沿研究。