生产厂家：FEI
设备型号：Tecnai G2 F30
主要技术指标：
1.加速电压： 200 kV～300 kV
2.点分辨率：0.20 nm
3.线分辨率：0.102 nm
4.信息限度：0.14 nm
5.TEM放大倍数范围 60 Χ -1000kx
6.相机长度（mm）80 - 4，500
7.最大衍射角度 ±12
8.STEM HAADF分辨率：0.19 nm
9.STEM放大倍数范围：150 Χ -230Mx
10.能谱分辨率：≤ 136 eV
11.能量过滤器分辨率：≤ 0.9 eV
应用范围：
FEI公司Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜是一个真正多功能，多用户环境的300 kV场发射透射电子显微镜，它将各种透射电镜技术，包括CTEM，SAED，STEM，EDX有机组合，形成强大的分析功能，可在原子尺度上提供纳米材料的内部结构、电子结构及化学环境等信息，同时可对材料组成元素进行线分布和面分布分析，获得高空间分辨率的定性、定量信息。
样品要求：
样品厚度需低于200 nm。微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样。由于该仪器是高分辨分析型电镜，为确保仪器高空间分辨率的特性，目前主要接受材料领域的样品，暂不接受磁性样品、易挥发、有毒及带有辐射性样品。
地点：D04-104B
