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超高分辨场发射扫描电镜(FE-SEM)
2015-05-13 09:51  

生产厂家:FEI

设备型号:Nova NanoSEM 450

主要技术指标

1.电镜的分辨率:2 nm 放大倍数:7 ~ 500,000

2.扫描电镜分辨率:30kV高真空、低真空: 2.0nm;3kV低真空: 3.5nm

3.30kV透射扫描(STEM)分辨率:1.5nm;环境真空模式下30kV时,分辨率2.0nm

4.能谱元素分析范围:5B~92U

5.EBSD空间分辨率(Al, 20kV):0.1 μm FEG SEM;角度分辨率优于0.5度

6.相鉴定功能:包括七大晶系,具有最大的相鉴定数据库  

应用范围

Nova NanoSEM 450 场发射扫描电子显微镜是表面分析重要的表征工具之一,具有灵活先进的自动化操作系统。具有三种成像真空模式--高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式,可以观察分析各种类型的样品。它可以对处理过的样品和未处理的原始样品提供微米、纳米级表面特征的图像和微观分析数据。在生物学、地质、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他领域中得到日益广泛的应用。本仪器还配有INCA X-射线能谱仪和EBSD背散射电子衍射系统,元素分析范围为4Be~92U,同时可进行晶体结构和取向分析。

样品要求

各种类型的尺寸小于5cm×5cm×5cm(尺寸毫米级为宜)的干燥固体样品

地点:D04-104A

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