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X射线衍射仪(XRD)
2015-05-13 09:45  

生产厂家:日本岛津公司

设备型号:XRD - 7000S

主要技术指标

1.测角仪半径:L型:275mm;S型:200mm

2.最小步进角度:0.0001°

3.扫描范围:0°-﹢82°(θs),0°-﹢132°(θd),0°-﹢164°(2θ)

4.扫描速度:0.1°/min-50°/min(θs、θd)

应用范围:

X射线衍射仪广泛用于无机物、有机物(部分)、高分子、药物及矿物等多晶样品的分析。可进行物相定性、晶粒度测定、纳米材料颗粒分布、长周期测定、取向度测定、晶型鉴别、Kα1射线数据测量以及其它参数测定。

样品要求:

送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。粉末样品需要量约为0.5 g(视其密度和衍射能力而定);块状样品要求具有一个面积小于1.8 cm ×1.8 cm 的近似平面;薄膜样品要求有一定的厚度,面积小于1.8cm×1.8 cm。

地点:D04-109A

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