生产厂家：日本岛津公司

设备型号：XRD - 7000S

主要技术指标

1.测角仪半径：L型：275mm；S型：200mm

2.最小步进角度：0.0001°

3.扫描范围：0°-﹢82°（θs），0°-﹢132°（θd），0°-﹢164°（2θ）

4.扫描速度：0.1°/min-50°/min（θs、θd）

应用范围：

X射线衍射仪广泛用于无机物、有机物（部分）、高分子、药物及矿物等多晶样品的分析。可进行物相定性、晶粒度测定、纳米材料颗粒分布、长周期测定、取向度测定、晶型鉴别、Kα₁射线数据测量以及其它参数测定。

样品要求：

送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。粉末样品需要量约为0.5 g（视其密度和衍射能力而定）；块状样品要求具有一个面积小于1.8 cm ×1.8 cm 的近似平面；薄膜样品要求有一定的厚度，面积小于1.8cm×1.8 cm。

地点：D04-109A